CIS30-S インテリジェント清浄度分析システム
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CIS30-S インテリジェント清浄度分析システム

CIS30-Sシステムは、インテリジェントなワンクリック操作で清浄度分析に革命をもたらし、シングルスキャンでの金属/非金属粒子識別により分析速度を50%高速化します。特許取得済みのデジタル照明技術、自動倍率認識機能、ISO16232/VDA19規格への準拠を備えています。自動閾値設定、カスタマイズ可能なレポート機能、認証済み標準物質を用いたトレーサブルな測定結果を提供します。自動車、半導体、精密製造の品質管理に最適で、実験室レベルの精度で粒子サイズ、分布、3Dトポグラフィーの包括的な分析を提供します。

CIS30-S インテリジェント清浄度分析システム

インテリジェント分析技術

One-Click Automatic Particle Identification & 3D Analysis

CIS30-Sインテリジェント清浄度分析システムは、高度な光学イメージング、インテリジェントアルゴリズム、そして自動化されたワークフロー管理を統合した、自動化技術における画期的なシステムです。革新的なワンクリック操作により、従来の顕微鏡分析の複雑さを解消し、あらゆるスキルレベルのオペレーターがプロフェッショナルグレードの清浄度分析を行えるようになります。

コアインテリジェンスはいくつかの画期的な技術から生まれています。特許取得済みのデジタル照明システム(特許番号:ZL 201721784091.X)は、1回のスキャンで金属粒子と非金属粒子の同時識別を可能にし、従来の方法と比較して分析時間を50%大幅に短縮します。このシステムのスマートな拡大認識対物レンズを交換すると測定スケールが自動的に調整され、異なる倍率でも一貫した精度が確保されます。さらに、閾値設定VDA19仕様に準拠しており、粒子の検出と分類における人為的エラーを排除します。

CIS30-S Intelligent Cleanliness Analysis System

高度な画像処理機能

CIS30-Sの中核を成すのは、清浄度分析専用に設計された高度な光学システムです。このシステムは、研究グレードの無限遠補正光学系と12.5:1のズーム比を備え、ISO16232-7およびVDA19.1規格に準拠し、15μmの微粒子まで検出可能です。撮像システムは、グローバルシャッター技術を搭載した高解像度産業用カメラ(ソニー製IMX265センサー、解像度2064×1544)を搭載し、毎秒53フレームの鮮明で歪みのない画像を撮影します。

このシステムの照明技術は粒子分析の標準を確立しています。インテリジェントデジタル照明システム標準照明モードと偏光照明モードの両方を備えており、金属粒子と非金属粒子を反射特性に基づいて明確に区別できます。金属粒子は標準照明下では反射しますが、偏光照明下では暗くなります。一方、非金属粒子はどちらの照明条件下でも一貫した外観を保ちます。このデュアルモード分析により、複数回のスキャンを必要とせずに正確な材料分類が可能になります。

自動化されたワークフロー機能

CIS30-Sは、複雑な分析手順を合理化された自動化プロセスに変換します。ワンクリックインテリジェントモードスキャン、粒子検出、分類、レポート作成まで、すべての分析ステップを単一の操作に統合します。これには、自動フォーカス、ステージ移動、画像キャプチャ、データ分析が含まれており、オペレーターのトレーニング要件を大幅に削減し、複数のユーザー間で一貫した結果を実現します。

高度なソフトウェアアルゴリズムがシステムの分析機能を強化します。ソフトウェアには以下が含まれます。自動粒子認識定義済みの基準(例:繊維識別の場合、長さ≥100μm、アスペクト比>10)に基づいて、金属粒子、非金属汚染物質、繊維を識別します。このシステムは複数の粒子サイズ測定アルゴリズムをサポートしており、ユーザーはISO16232およびVDA19プロトコルに加えて、カスタム分析基準を定義することができます。橋梁建築すべてのプロジェクト データを管理し、さまざまなパラメータを使用して簡単にレビュー、編集、再分析できます。

測定精度とトレーサビリティ

複数の検証メカニズムによって精度が保証されます。システムには以下が含まれます。認証標準物質第三者認証機関による認証を受けており、国内および国際標準にトレーサブルです。これらの標準物質は、50~1000μmの粒子を47mmの領域に分散させたもので、機器の性能と測定の一貫性を定期的に検証できます。自動校正システムは、スケール検証とバックグラウンド補正のためのツールを内蔵しており、長期にわたって測定の整合性を維持します。

One-Click Automatic Particle Identification & 3D Analysis

システムの3D解析機能基本的な粒子計数を超えた包括的な地形情報を提供します。これには高さ測定、体積計算、表面積分析が含まれており、特に実用アプリケーションにおける粒子挙動の理解に役立ちます。大型走査ステージ(移動範囲125×75mm)は、0.1μm分解能でフルフィルター分析に対応し、電動レボルバーにより複数箇所の分析における正確な位置決めを実現します。

CIS30-S Intelligent Cleanliness Analysis System

カスタマイズ可能なレポートとデータ管理

柔軟なレポート作成機能により、多様な組織のニーズに対応します。このシステムは、粒度分布、材料分類、汚染源を含む包括的な分析レポートを生成します。レポートは、お客様のテンプレートに合わせてカスタマイズでき、複数の形式(PDF、エクセル)でエクスポートできます。Q-DTSデータ相互接続プラットフォーム製造実行システム (MES) とのシームレスな統合を可能にし、リアルタイムの品質監視と傾向分析をサポートします。

プロジェクト管理機能により、データの整理された取り扱いが可能になります。システムは、元の画像、測定データ、分析パラメータを含む分析プロジェクト全体をアーカイブします。高度な検索機能により、プロジェクト名、日付、または特定の条件で迅速に検索できます。セキュリティ機能により、すべての分析ステップとパラメータ変更を追跡する監査証跡により、結果の整合性が確保されます。

One-Click Automatic Particle Identification & 3D Analysis

アプリケーションと業界のコンプライアンス

CIS30-Sは、特定のコンプライアンス要件を持つ複数の業界に対応しています。自動車製造においては、VDA19規格に準拠した部品の清浄度を確保します。半導体アプリケーションでは、ミクロンレベルの汚染物質を高精度に検出できることが大きなメリットです。また、このシステムは、粒子状汚染の制御が不可欠な航空宇宙、医療機器、精密工学などの業界にも役立ちます。

定期的なメンテナンスと校正により、長期的な信頼性を確保します。システムのモジュール設計により、コンポーネントの交換とアップグレードが容易になり、安定した機械プラットフォームと温度補償光学系により、さまざまな環境条件下でも精度を維持します。包括的なトレーニングとサポートリソースにより、ユーザーはシステムを最大限に活用し、認定コンプライアンスを維持できます。

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