電界放出型透過電子顕微鏡

電界放出型透過電子顕微鏡の応用と関連試験ソリューション

電界放出型透過電子顕微鏡は、鮮明な画像、安定した試験条件、信頼性の高い実験室または生産現場における品質管理を必要とする精密検査および分析作業をサポートします。

関連製品： 走査型暗視顕微鏡|EASY-G 1310M ガスピクノメーター|比表面積・細孔径分析装置 EASY-V

商品詳細 

TH120 120kV電界放出型透過電子顕微鏡は、電子顕微鏡分野における画期的な進歩であり、材料科学、生命科学、ナノテクノロジーといった分野における高度な研究に対応するものです。

コアイメージングテクノロジー

その核心にあるのはショットキー電界放出型電子銃安定した高輝度電子ビームを生成する。これにより、複雑なサンプルでも優れた画像鮮明度が保証される。平行ビーム／収束ビーム自動切り替えシステム広視野観測と高解像度解析間のシームレスな移行を可能にする。一方、対称型対物レンズ一貫した性能を維持し、原子スケールでの精密な構造解析を可能にする。

イメージング＆精密部品

の高画素CMOSカメラ細部まで驚くほど鮮明に捉え、4軸高精度ステージ正確なサンプル位置決めをサポートします。この組み合わせにより、複雑な実験でも信頼性の高い結果が得られます。高度に統合されたソフトウェア自動データ取得からリアルタイムモニタリングまで、ワークフローを効率化します。位置合わせ、焦点合わせ、データエクスポートなどの作業を簡素化し、手作業によるミスを減らし、研究を迅速化します。

ユーザー中心設計

際立った特徴は分割された作業スペースコンセプト：オペレーターは別の部屋で作業することで、TEMの性能を阻害する可能性のある環境干渉（振動、電磁ノイズなど）を最小限に抑えます。この構成により、快適な操作性と安定した実験条件が確保され、長期研究に不可欠な環境が実現します。

効率性と自動化

指定されたソフトウェアが統合します高度に自動化されたプロセス手作業による介入を減らすことができます。例えば、自動化されたルーチンが位置合わせ、焦点合わせ、データ収集を処理するため、研究者は分析に集中できます。これは、反復作業や大規模な実験において特に有効です。

アップグレードの可能性

競合他社のミドルレンジモデルと比較して、TH120は「アップグレードされた操作体験」を提供します。高度な自動化機能を備えたショットキー型電子銃は、通常ハイエンドのTEMに搭載されており、ユーザーは競争力のある価格で最高級のテクノロジーを利用できます。さらに、この顕微鏡は十分な予約済みインターフェースこれにより、EDS（エネルギー分散型X線分光法）、STEM（走査透過型電子顕微鏡）、クライオボックスなどのオプション機器を容易に追加できます。この適応性により、元素マッピングから極低温イメージングまで、進化する研究ニーズに対応できます。

技術仕様

加速電圧（10～120kV）は、さまざまなサンプル（例えば、繊細な生物試料や頑丈な材料）に合わせて調整されます。InforWx（情報限界）は0.20nm（高コントラスト）/0.14nm（高解像度）に達し、0.36nm/0.30nmの点解像度で原子スケールの構造が明らかになります。倍率は10～1,200,000倍（高コントラスト）/10～1,500,000倍（高解像度）に及び、包括的なサンプル検査が可能です。4096×4096ピクセルのカメラセンサーが超高精細な画像をキャプチャし、ステージの回転角度（-90°～+90°または-70°～+70°）により、詳細な3D解析をサポートします。

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